XT V 160是一款易于使用、经济高效的高质量PCB检测系统,适用于生产设施和失效分析实验室。
特点:
◎具有亚微米级焦点大小的NanoTech源
◎75度的倾斜角度,可对BGA进行较佳检测
• 亚微米级的焦点尺寸NanoTech™射线管
• 快速获取高品质的图像
• 可以同时放置多件样品的大托盘载物台
• 可以自定义宏让工作流程自动化
引进功能
• 灵活的操作集成到一个紧凑的系统里
• 人机交互式的可视化功能
• 全自动X射线检测功能
• 详细分析用的CT功能(选配)
• 最大可达75°的倾斜观测角度
• 直观的GUI界面与交互式操作杆导航功能进行快速检测
• 便于维护的开管式设计使得维护成本被降低到最小
• 不需要额外保护措施的射线计量安全系统
• 占用空间小,重量轻,安装设置简便
用途
• BGA检测分析
• 焊锡空洞检测
• 通孔检测
• 芯片银胶空洞检测
• 球形引脚连接检测
• 压线连接检测
• 微小BGA检测
• Padarray检测